754N紫外可見分光光度計

產品編號

754N紫外可見分光光度計

所屬分類

電鍍設備

型號:

規格:

產品描述

754N紫外可見分光光度計是由上海奧譜勒儀器有限公司研發和生產，與其前代產品相比，754N具有如下功能、突出特點和改進：主要功能：

（1)定量分析:兩種方法可選建立標準曲線：系數法和標準樣品標定法，最多可以用20個標準樣品來標定曲線或者直接輸入曲線系數來建立標準曲線，標準曲線可用3種方式擬合（一階線性過零擬合，一階線性擬合，二階線性擬合）

（2）時間掃描：采樣時間間隔可選（0.5，1.0，2.0，5.0，10.0，30.0和60秒）掃描曲線顯示方式可切換（時間-透過率或時間-吸光度）

（3）波長掃描：掃描間隔可選（0.1，0.2，0.5，1.0，2.0和5.0nm）掃描曲線顯示方式可切換（波長-透過率，波長-吸光度和波長-能力）波長掃描系統基線可存儲、調用

（4）多波長分析：多達15個波長可設定

（5） DNA/蛋白質分析：內置兩種分析方法測試參數可自定義

特點：

    （1）根據設置波長自動保存最新波長
    （2）與普通同類產品相比增加了測量的穩定性
    （3）可測量光程為100毫米
    （4）全面的控制紫外燈和鎢燈光功能
    （5）根據標準模式或輸入標準建立定量分析方式
    （6）能夠保存50組數據記錄以及多達10條校準曲線
    （7）可選擇安裝與電腦連接的軟件裝置
    （8）依照標準實驗室檢測標準測定的結果顯示,存儲和打印檢測結果
    （9）建立不同方式曲線,曲線自動計算濃度樣本
    （10）可以同時為多種波長提供定量分析(多達三波長)